Skip to content

www.dselectric.ru

Книгофонд

И. В. Куликов Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем. Критерий качества и надежности

И. В. Куликов Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем. Критерий качества и надежности

Файл загрузили: 88

Рейтинг файла: 88

Содержание этой книги И. В. Куликов Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем. Критерий качества и надежности. Книга рассчитана на научных работников в области разработок СБИС, проектировщиков и испытателей электронной компонентной базы и аппаратуры, аспирантов и студентов по данной специализации, а также может заинтересовать широкий круг соответствующих специалистов в других областях техники. Критически рассматривается возможность ускорения тепловых испытаний на надёжность компонентов электронной техники, включая лимит адекватности термодинамической модели старения Аррениуса для дискретных компонентов, а также её ничтожную достоверность в случае оценки надёжности СБИС по функциональному критерию. Для прогноза ресурса СБИС предложена линейная регрессионная модель. В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Для решения данной проблемы вводится понятие электронного функционала и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность динамического явления, а именно сбоя выходных сигналов СБИС. Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надёжность как свойства высокого качества. Данные И. В. Куликов Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем. Критерий качества и надежности загрузил: andreas-kinscher.

2 thoughts on “И. В. Куликов Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем. Критерий качества и надежности

Добавить комментарий

Ваш e-mail не будет опубликован. Обязательные поля помечены *